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X射线镀层测厚仪--韩国XRF-2000
1、测量电镀层厚度范围为0.03微米～35微米。
2、可测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍及锌镍合金等。
3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底村。
三、设备功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线非接触非破坏快速测量电镀层厚度
拥有多种滤波器选择
各种样品单层至多层（5层），合金膜层可测量
定点自动定位分析
光标对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量数据
彩色区别测量数据
多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统
多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定
1、主机箱：
输入电压：AC220V±10%，50/60Hz
沟通方法：RS-232C
温度控制：前置放大及机箱温度控制
对焦：激光自动对焦
样品对位：激光对位
安全装置：若测量中箱门打开，X射线会在0.5秒内自动关闭
表面泄露：少于1SV
2、多通道分析：
通道数量：1024ch
温度控制：自动前置放大温度控制
脉冲处理：微电脑高速控制处理器
3、X射线源：
X射线管：油冷、超微细对焦
高压：0-50Kv（程控）
管电流：0-1mA（程控）
目标靶：W靶（可选Mo或Be）
4、准直器：
固定种类大小：0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五个可选
韩国XRF-2000X光镀层测厚仪
韩国XRF-2000X光镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等。
XRF-2000镀层测厚仪共三款型号
不同型号功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒
镀银测厚仪，镀镍测厚仪，镀铬测厚仪，镀铜测厚仪